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AP

Informació de la patent

Nombre de prioritat de patents: ES20070002109

Número de sol·licitud: PCT/ES2008/000478

Número de sol·licitud: E08805308



Data de registre

07-07-2008

Data de concessió

N/A

Àmbit

Nacional

País de prioritat

Spain

Països on s’ha estès

Madrid

Anàlisi d'autories institucional

Ituero Herrero, PabloInventors/autors/obtentorsLópez Vallejo, MarisaInventors/autors/obtentors

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15 denovembre de 2021
Propietat industrial i intel·lectual
>
Patent d'invenció
No

APARATO PARA LA MEDIDA DE TEMPERATURA Y CORRIENTE DE FUGAS EN UN CHIP.

Inventors | Autors | Titulars:

López Vallejo, Marisa (Inventores/autores/obtentores); AYALA RODRIGO, JOSE LUIS (Inventores/autores/obtentores); ITUERO HERRERO, PABLO (Inventores/autores/obtentores)
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Entitat Titular/Solicitant | Explotadora

UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID(ES) C/ RAMIRO DE MAEZTU 7, 28040 MADRID - Sol·licitant

Descripció general

Aparato para Ia medida de temperatura y corriente de fugas en unchip que proporciona una salida que varía linealmente con la temperatura. El aparato comprende un inversor de fugas y un módulo electrónico que digitaliza y linealiza la salida no lineal del inversor de fugas. Al proporcional una respuesta lineal se reducen las necesidades de almacenamiento e interconexión de los datos, además se facilita Ia representación numérica de los mismos. El aparato se puede usar para medir variaciones de temperatura dentro deun chip y también para medir variaciones de la corriente de fugas, lo que a su vez conlleva medir variaciones de potencia estática dentro de un chip.
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