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Ituero Herrero, PabloInventors/authors/breedersLópez Vallejo, MarisaInventors/authors/breeders

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November 15, 2021
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Patent
No

APARATO PARA LA MEDIDA DE TEMPERATURA Y CORRIENTE DE FUGAS EN UN CHIP.

Publicated to:UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID(ES) C/ RAMIRO DE MAEZTU 7, 28040 MADRID - 2008-07-07 (), DOI: PCT/ES2008/000478

Ituero Herrero, Pablo; López Vallejo, Marisa;

Affiliations

Abstract

Aparato para Ia medida de temperatura y corriente de fugas en unchip que proporciona una salida que varía linealmente con la temperatura. El aparato comprende un inversor de fugas y un módulo electrónico que digitaliza y linealiza la salida no lineal del inversor de fugas. Al proporcional una respuesta lineal se reducen las necesidades de almacenamiento e interconexión de los datos, además se facilita Ia representación numérica de los mismos. El aparato se puede usar para medir variaciones de temperatura dentro deun chip y también para medir variaciones de la corriente de fugas, lo que a su vez conlleva medir variaciones de potencia estática dentro de un chip.

Keywords

Quality index

Leadership analysis of institutional authors

There is a significant leadership presence as some of the institution’s authors appear as the first or last signer, detailed as follows: Last Author (LOPEZ VALLEJO, M. LUISA).